德***布魯克 探針式表面輪廓儀DektakXT
產(chǎn)品介紹：
布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是***項創(chuàng )新性的設計，可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以達到5?。臺階儀這項性能的提高達到了過(guò)去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng )新的頂峰，更加鞏固了其行業(yè)***地位。不論應用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過(guò)在研究工作中的廣泛使用，DektakXT***定能夠做到功能更強大，操作更簡(jiǎn)易，檢測過(guò)程和數據采集更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。
DektakXT wan美設計
探針系統的評價(jià)體系受三個(gè)因素影響：能否重復測量，數據采集和分析速度快慢，操作的難易程度。這些因素直接影響了數據的質(zhì)量和操作效率。DektakXT利用全新結構和和zui佳軟件來(lái)實(shí)現可重復、時(shí)間短、易操作這三個(gè)必要因素，達到zui佳的儀器使用效果。
強化操作的可重復性DeliveringRepeatableMeasurements
DektakXT在設計上的幾個(gè)提高，使其在測量臺階高度重復性方面具有優(yōu)異的表現，臺階高度重復性可以到達5?.使用single-arch結構比原先的懸臂梁設計更堅硬持久不易彎曲損壞，而且降低了周?chē)h(huán)境中聲音和震動(dòng)噪音對測量信號的影響。同時(shí)，Bruker還對儀器的智能化電子器件進(jìn)行完善，提高其穩定性，降低溫度變化對它的影響，并采用先進(jìn)的數據處理器。在控制器電路中使用這些靈敏的電子元器件,會(huì )把可能引起誤差的噪音降到zui低，DektakXT的系統因此可以更穩定可靠的實(shí)現對高度小于10nm的臺階的掃描。Single-arch結構和智能器件的聯(lián)用，大大降低了掃描臺的噪音，增強了穩定性，使其成為***個(gè)極具競爭力的臺階儀（表面輪廓儀）。
提高數據采集和分析速度SpeedingUpCollectionand Analysis
利用獨特的直接掃描平臺，DektakXT通過(guò)減少從得到原始數據到扣除背底噪音所需要的時(shí)間，來(lái)提高掃描效率。這***改進(jìn)，大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長(cháng)程掃描的掃描速度。在保證質(zhì)量和重復性的前提下，可以將數據采集處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker 64-Bit數據采集分析同步操作系統Vision64，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數據量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時(shí)的數據分析處理效率。Vision64還具有***有效直觀(guān)的用戶(hù)界面，簡(jiǎn)化了實(shí)驗操作設置，可以自動(dòng)完成多掃描模式，使很多枯燥繁復的實(shí)驗操作變得更快速簡(jiǎn)潔。
完善的操作和分析系統PerfectingOperationandAnalysis
與DektakXT的創(chuàng )新性設計相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上***實(shí)用簡(jiǎn)潔的用戶(hù)界面，具備智能結構，可視化的使用流程，以及各種參數的自助設定以滿(mǎn)足用戶(hù)的各種使用要求，快速簡(jiǎn)便的實(shí)現各種類(lèi)型數據的采集和分析。
DektakXT 技術(shù)參數
—臺階高度重復性5?
—Single-arch設計大大提高了掃描穩定性
—前置敏化器件，降低了噪音對測量的干擾
—新的硬件配置使數據采集能力提高了40%
—64-bit，這***Vision64同步數據處理軟件，使數據分析速度提高了十倍。
功能zhuo越，操作簡(jiǎn)易
—直觀(guān)的Vision64用戶(hù)界面操作流程簡(jiǎn)便易行
—針尖自動(dòng)校準系統讓用戶(hù)更換針尖不再是難事
臺階儀（表面輪廓儀）領(lǐng)域無(wú)可撼動(dòng)的shi界***地位
—布魯克的臺階儀，體積輕巧，功能強大。
—單傳感器設計提供了單***平面上低作用力和寬掃描范圍
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
