SpecEl橢偏儀
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 16:46
品 牌:型 號:SpecEl橢偏儀
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2733
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí),請說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝!
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上海自提或三方快遞
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SpecEl-2000-VIS橢偏儀通過(guò)測量基底反射的偏振光,進(jìn)而測量薄膜厚度及材料不同波長(cháng)處的折射率。SpecEl通過(guò)PC控制來(lái)實(shí)現折射率,吸光率及膜厚的測量。 |
集成的精確測量系統
SpecEl由***個(gè)集成的光源,***個(gè)光譜儀及兩個(gè)成70°的偏光器構成,并配有***個(gè)32位操作系統的PC.該橢偏儀可測量0.1nm-5um厚的單膜,并且折射率測量可達0.005%。
SpecEl可通過(guò)電話(huà)問(wèn)價(jià)。
SpecEl軟件及Recipe配置文件
通過(guò)SpecEI軟件,你可以配置及存貯實(shí)驗設計方法實(shí)現***鍵分析,所有的配置會(huì )被存入recipe文件中。創(chuàng )建recipe后,你可以選擇不同的recipe來(lái)執行你的實(shí)驗。
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 SpecEI軟件截圖顯示的Psi及Delta值可以用來(lái)計算厚度,折射率及吸光率。 |
配置說(shuō)明
波長(cháng)范圍: | 380-780 nm (標準) 或450-900 nm (可選) |
光學(xué)分辨率: | 4.0 nm FWHM |
測量精度: | 厚度0.1 nm ; 折射率 0.005% |
入射角: | 70° |
膜厚: | 單透明膜1-5000 nm |
光點(diǎn)尺寸: | 2 mm x 4 mm (標準) 或 200 µm x 400 µm (可選) |
采樣時(shí)間: | 3-15s (*小) |
動(dòng)態(tài)記錄: | 3 seconds |
機械公差 (height): | +/- 1.5 mm, 角度 +/- 1.0° |
膜層數: | 至多32層 |
參考: | 不用 |