光子晶體探測器型橢偏儀
價(jià) 格：詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-01-18 16:45
品 牌：型 號：ME-210/110
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2066
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí)，請說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
聯(lián) 系 人：
上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
電 話(huà)：
400-006-7520
傳 真：
400-006-7520
配送方式：
上海自提或三方快遞
聯(lián)系我時(shí)請說(shuō)在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝！
北京飛凱曼公司提供光子晶體探測器型橢偏儀。這種光子晶體探測器型的橢偏儀是有日本Photonic Lattice公司***創(chuàng )，并應用到橢偏儀的測試中。日本Photonic Lattice公司在光子晶體的研究和制造領(lǐng)域世界，由此開(kāi)發(fā)出的光子晶體探測器型橢偏儀具有測試速度快、測量準確、免維護、價(jià)格低廉等特點(diǎn)已經(jīng)在光學(xué)薄膜、半導體薄膜、有機薄膜等領(lǐng)域有著(zhù)廣泛的應用。該橢偏儀可快速準確測量薄膜的厚度和折射率的分布。
相比傳統的光譜型橢偏儀，光子晶體探測器型橢偏儀避免了探測器的機械運動(dòng)。使得測試速度更快、測試更加準確、成本更加低廉。
ME-210型光子晶體探測器型橢偏儀特點(diǎn)：
1） 可用于8英寸樣品的3D快速成像
2） 可用于厚度差異小于1nm以?xún)鹊谋∧さ目焖俸透呔瘸上?/span>
3） 超高速測量，速度可達20000點(diǎn)/分鐘
4） 超高分辨率的測量，*小面積可達50um2
5） 可進(jìn)行透明基底上的薄膜的測試
技術(shù)規格：
型號 | ME-210/110 |
|
重復性精度 | 0.1nm（厚度）, 0.001（折射率） |
測量速度 | 每分鐘1000個(gè)點(diǎn)以上 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點(diǎn)尺寸 | 0.5mm2 |
|
入射角 | 70度 |
樣品尺寸 | 8英寸（可選12英寸） |
|
儀器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
|
數據接口 | 千兆以太網(wǎng)（攝像機信號），RS-232C |
電源 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
詳細信息請咨詢(xún)我們。
010-57034898，13426411645 info@pcm-bj.com QQ1606737747
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
