Thermo Scienti?c? Prisma? E SEM結合了全面的成像性能和獨特的環(huán)境模式（Thermo Scienti?c ESEM?），同時(shí)兼容廣泛的硬件和軟件選型，可滿(mǎn)足多用戶(hù)實(shí)驗室的綜合應用需求。

學(xué)術(shù)和工業(yè)研究實(shí)驗室希望現代SEM能夠從*廣泛的樣品中獲得大量數據，并獲得出色的圖像質(zhì)量。由于大多數實(shí)驗室都是多用戶(hù)設施，確保所有經(jīng)驗***別的操作者都可以訪(fǎng)問(wèn)所有數據，易用性至關(guān)重要。Prisma E SEM 的三種真空模式（高真空、低真空和 ESEM?）使得系統極具靈活性，可以容納任何 SEM 可用的*廣泛的樣品類(lèi)型，包括放氣的、未鍍導電膜的或者是與真空狀態(tài)不相容的樣品。多種檢測器選項（定向背散射探測器、STEM、陰極熒光探測器等）提供了所有必要的樣品信息。探測器信號同步采集和顯示，可以在*短的時(shí)間內提供答案。此外，ESEM可以提供真實(shí)環(huán)境條件對樣品進(jìn)行原位研究，例如在濕潤、高溫、潮濕或反應性環(huán)境中的樣品觀(guān)察。Prisma E SEM 還包括***系列軟件集成的原位實(shí)驗臺，用于執行和控制動(dòng)態(tài)實(shí)驗。

Prisma E SEM 的分析樣品倉可以滿(mǎn)足日益增長(cháng)的樣品元素信息及晶體結構分析需求，它同時(shí)支持相對的雙能譜（EDS）探測器用于增強信號并去除陰影效應；此外，支持共面的能譜（EDS）/電子背散射衍射（EBSD）和平行束波譜（WDS）探測器以確保各個(gè)探測器獲得*佳的采集位置。 得益于Prisma E SEM 強大的原位功能，對于絕緣樣品或者需要高溫條件的實(shí)驗都能獲得更加可靠的分析結果。