JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡
以節能環(huán)保、減排低碳為理念開(kāi)發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿(mǎn)足多種使用途徑，易用性強，外觀(guān)設計精煉，能為不同層次的用戶(hù)提供新奇的操作體驗。
產(chǎn)品規格：
| 超高分辨極靴 | 高分辨極靴 | |
| 分辨率 |
| TEM點(diǎn)分辨率 | 0.19 nm | 0.23 nm |
| STEM-HAADF 像 | 0.14 nm @冷場(chǎng)槍 | 0.16 nm @冷場(chǎng)槍 |
| 0.16 nm @熱場(chǎng)槍 | 0.16 nm @熱場(chǎng)槍 |
| 加速電壓 | 200 , 80 kV | 200 , 80 kV |
| 主要選配件 | 能譜儀（EDS）、電子能量損失譜儀（EELS）、CCD相機、TEM/STEM斷層掃描系統 |
產(chǎn)品特點(diǎn)：
· 以節能環(huán)保、減排低碳為理念開(kāi)發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿(mǎn)足多種使用途徑，易用性強，外觀(guān)設計精煉，能為不同層次的用戶(hù)提供新奇的操作體驗。
外觀(guān)設計精煉
· 精煉的外型，全新的視覺(jué)感受。
為分析型電鏡全新設計的GUI，使操作更加直觀(guān)方便。
JEOL長(cháng)年積累的豐富經(jīng)驗在設計上得到了充分的體現，與舊機型相比，電鏡的機械性和電氣穩定性都得到了很大的提高。
四***聚光鏡系統
· 現在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術(shù)－－- 從明場(chǎng)/暗場(chǎng)的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術(shù)。 該設備采用新型四***聚光鏡照射光學(xué)系統-“Quad-Lens condenser system”，通過(guò)分別控制電子束強度和匯聚角，能滿(mǎn)足各種研究的需求。
高端掃描系統
· JEM-F200可以實(shí)現大視野的STEM-EELS分析，該設備在常規的照明系統的電子束掃描功能之上，增加了新的掃描系統-“Advanced Scan System” 即成像系統的電子束掃描功能（選配）。
皮米樣品臺驅動(dòng)
· JEM-F200 采用能以皮米***步長(cháng)移動(dòng)樣品臺的Pico stage drive（不用壓電驅動(dòng)），能在寬動(dòng)態(tài)范圍移動(dòng)視野-從樣品的整個(gè)柵網(wǎng)視野移動(dòng)到原子***圖像視野移動(dòng)都能進(jìn)行。
SpecPorter（自動(dòng)插入和拔出樣品桿的裝置）
· 插入和拔出樣品桿，對電鏡初學(xué)者來(lái)說(shuō)***直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter，即使新手也能輕松掌握，將樣品桿安裝在指定的位置上，只用***個(gè)按鈕即能安全地插入或拔出。
改進(jìn)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍
· JEM-F200能安裝高穩定性、高亮度和高能量分辨率的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)ㄟx配），該槍的利用可以進(jìn)行EELS化學(xué)結合狀態(tài)分析，高亮度的電子束縮短了分析時(shí)間，并且還降低了來(lái)自光源的色差，實(shí)現了高分辨率的觀(guān)察。
雙能譜（SDD）
· JEM-F200能同時(shí)安裝兩個(gè)大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器（SDD）（選配件）。 憑借更高的靈敏度，EDS分析速度更快，對樣品的損傷更小。
環(huán)保節能
· JEM-F200是***個(gè)標配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統能將能源消耗降低到正常模式時(shí)的1/5，可以在裝置不運行時(shí)，以*小的能耗保持著(zhù)電鏡的*佳條件。該設備具有排程功能，能在指定的時(shí)間將電鏡從ECO模式恢復到工作狀態(tài)。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
