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蔡司超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 300/VP

價(jià)  格:詢(xún)價(jià)

產(chǎn)  地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:21

品  牌:型  號:GeminiSEM 300/VP

狀  態(tài):正常點(diǎn)擊量:1676

400-006-7520
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上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

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電   話(huà): 400-006-7520

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配送方式: 上海自提或三方快遞

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詳細描述:

 

品牌:卡爾?蔡司

 型號:GeminiSEM 300/VP

 制造商:德***卡爾蔡司公司

 經(jīng)銷(xiāo)商:歐波同有限公司

 

【品牌故事】 
     
世界光學(xué)品牌,可見(jiàn)光及電子光學(xué)的領(lǐng)導企業(yè)----德***蔡司公司始創(chuàng )于1846年。其電子光學(xué)前身為LEO(里奧),更早叫Cambridge(劍橋),積掃描電鏡領(lǐng)域40多年及透射電鏡領(lǐng)域60年的經(jīng)驗,ZEISS電子束技術(shù)在世界上創(chuàng )造了數個(gè):

    臺靜電式透射電鏡 (1949
      
臺商業(yè)化掃描電鏡 (1965
      
臺數字化掃描電鏡(1985
      
臺場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(1990
      
臺帶有成像濾波器的透射電鏡 (1992
      
臺具有Koehler照明的 200kV 場(chǎng)發(fā)射透射電鏡(2003
      
臺具有鏡筒內校正Omega能量濾波器的場(chǎng)發(fā)射透射電鏡(2003)

    CARL ZEISS以其前瞻性至臻完美的設計融合歐洲至上制造工藝造就了該品牌在光電子領(lǐng)域無(wú)可撼動(dòng)的***地位。自成立至今,***直延續不斷創(chuàng )新的傳統,公司擁有電鏡制造*核心   的專(zhuān)有技術(shù),隨著(zhù)離子束技術(shù)和基于電子束的分析技術(shù)的加入、是全球為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業(yè)。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩定性已得到全世界廣大用戶(hù)的信賴(lài)與認可。作為全球電鏡標準***的CARL ZEISS將***路領(lǐng)跑高端電鏡市場(chǎng)為您開(kāi)創(chuàng )探求納米科技的嶄新紀元。

【總體描述】
      
二十多年來(lái),基于日漸完善的Gemini技術(shù),GeminiSEM具有完整高效的檢測系統、極高的分辨率以及簡(jiǎn)便的操作方式。Gemini物鏡設計將靜電場(chǎng)與磁場(chǎng)結合,可在限度地提升光學(xué)性能的同時(shí)將場(chǎng)發(fā)射對樣品的損傷降至。此設計確保了極佳的成像質(zhì)量,即使是較具挑戰性的磁性材料也同樣可以達到良好的成像效果。通過(guò)二次電子和背散射電子的檢測也使得高效率的信號探測成為可能。探測器安裝在光軸上,可以減少調整時(shí)間,并可限度地降低成像時(shí)間。Gemini電子束加速器技術(shù)確保了小的探針尺寸和高的信噪比,以達到超低的加速電壓。

【技術(shù)參數】

分辨率: 0.8nm @15 kV   1.4   nm @1kV

放大倍數:12-2,000,000×

加速電壓調整范圍:0.02-30 kV(無(wú)需減速模式實(shí)現)

探針電流: 3pA-20nA100nA可選)

低真空范圍: 10-500Pa GeminiSEM300 VP可用

樣品室: 330 mmφ,270 mmh

樣品臺:5軸優(yōu)中心全自動(dòng)   

X=130mm

Y=130mm

Z=50 mm

T=-3o-70o

R=360o 連續

系統控制基于Windows 7SmartSEM操作系統,可選鼠標、鍵盤(pán)、控制面板控制

 【產(chǎn)品應用】       
         
掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀(guān)形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀(guān)察,材料斷口分   析和失效分析,材料實(shí)時(shí)微區成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線(xiàn)掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶 粒取向測量。

 



產(chǎn)品參數


產(chǎn)品介紹




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