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全新設計的S8000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可以提供無(wú)與倫比的圖像質(zhì)量，具有強大的擴展分析能力，能夠滿(mǎn)足現今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求，不僅適用于高端的納米分析應用，也給操作者帶來(lái)舒適、高效的使用體驗。

S8000 FE-SEM的優(yōu)點(diǎn)：

• 新***代鏡筒內電子加速、減速技術(shù)，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀(guān)測能力

• ***次配置的靜電-電磁復合物鏡，物鏡無(wú)磁場(chǎng)外泄，實(shí)現磁性樣品高分辨成像及分析

• 配置4個(gè)新***代探測器，可實(shí)現9種圖像觀(guān)測，對樣品信息的采集更加全面

• 配置大型樣品室，有超過(guò)20個(gè)擴展接口，為原位觀(guān)測、分析創(chuàng )造了良好的工作環(huán)境

• 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并獨***實(shí)現與Raman聯(lián)用
  

創(chuàng )新的電子光學(xué)鏡筒，使電鏡擁有更加出色的超高分辨率

TESCAN S8000配置了*新的BrightBeam?鏡筒，實(shí)現了無(wú)磁場(chǎng)超高分辨成像，可以化的實(shí)現各種分析，包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設計增強了低能量電子成像分辨率，特別適合對電子束敏感樣品和不導電樣品的分析。

另外，EquiPower?透鏡技術(shù)可有效減少能量損耗并保證電子鏡筒的穩定性。

BrightBeam?電子光學(xué)鏡筒及探測器系統
（A）Axial detector (In-Beam)
（B）Multidetector (In-Beam)
（C）E-T detector (In-Chamber)
（D）Retractable BSE (In-Chamber)


配備*新的多種探測器，更好的表面靈敏度和對比度

S8000可配置*新的多種探測器，包括透鏡內Axial detector 以及 Multidetector，可選擇不同角度和不同能量來(lái)收集信號，體現更多種類(lèi)的信息，同時(shí)獲得更好的表面靈敏度和對比度。