手動(dòng)探針臺 四寸探針臺 測試探針臺 實(shí)驗室探針臺
價(jià) 格：詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-01-18 15:19
品 牌：型 號：pw-400
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2412
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聯(lián)系我時(shí)，請說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
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光發(fā)射顯微鏡是器件分析過(guò)程中針對漏電失效模式，必不可少的分析工具。器件在設計、生產(chǎn)制造過(guò)程中有絕緣缺陷，或者期間經(jīng)過(guò)外界靜電擊穿，均會(huì )造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下，內部形成流動(dòng)電流，漏電位置的電子會(huì )發(fā)生遷移，形成電能向光能的轉化，即電能以光能的方式釋放，從而形成200nm~1700nm紅外線(xiàn)。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線(xiàn)偵測器，通過(guò)紅外顯微鏡探測到這些釋放出來(lái)的紅外線(xiàn)，從而***的定位到器件的漏電點(diǎn)。我司推出的P-100光發(fā)射顯微鏡(EMMI),在同業(yè)中具有超高的性?xún)r(jià)比,并憑借良好的售后服務(wù),迅速占領(lǐng)市場(chǎng)
設備交流微信13488683602
光發(fā)射顯微鏡是器件分析過(guò)程中針對漏電失效模式，必不可少的分析工具。器件在設計、生產(chǎn)制造過(guò)程中有絕緣缺陷，或者期間經(jīng)過(guò)外界靜電擊穿，均會(huì )造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下，內部形成流動(dòng)電流，漏電位置的電子會(huì )發(fā)生遷移，形成電能向光能的轉化，即電能以光能的方式釋放，從而形成200nm~1700nm紅外線(xiàn)。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線(xiàn)偵測器，通過(guò)紅外顯微鏡探測到這些釋放出來(lái)的紅外線(xiàn)，從而***的定位到器件的漏電點(diǎn)。我司推出的P-100光發(fā)射顯微鏡(EMMI),在同業(yè)中具有超高的性?xún)r(jià)比,并憑借良好的售后服務(wù),迅速占領(lǐng)市場(chǎng)
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光發(fā)射顯微鏡是器件分析過(guò)程中針對漏電失效模式，必不可少的分析工具。器件在設計、生產(chǎn)制造過(guò)程中有絕緣缺陷，或者期間經(jīng)過(guò)外界靜電擊穿，均會(huì )造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下，內部形成流動(dòng)電流，漏電位置的電子會(huì )發(fā)生遷移，形成電能向光能的轉化，即電能以光能的方式釋放，從而形成200nm~1700nm紅外線(xiàn)。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線(xiàn)偵測器，通過(guò)紅外顯微鏡探測到這些釋放出來(lái)的紅外線(xiàn)，從而***的定位到器件的漏電點(diǎn)。我司推出的P-100光發(fā)射顯微鏡(EMMI),在同業(yè)中具有超高的性?xún)r(jià)比,并憑借良好的售后服務(wù),迅速占領(lǐng)市場(chǎng)
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