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賽默飛(原FEI) Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡

價(jià)  格:詢(xún)價(jià)

產(chǎn)  地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:05

品  牌:型  號:Scios

狀  態(tài):正常點(diǎn)擊量:2667

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Scios DualBeam

FEI Scios? 是***款超高分辨率 DualBeam? 分析系統,能為包括磁性材料在內的眾多樣本提供出色的二維和三維性能。FEI Scios 的創(chuàng )新功能可提高通量、精度與易用性,非常適于學(xué)院、政府和工業(yè)研究環(huán)境中的納米量***研究與分析。


高***檢測技術(shù)是 FEI Scios 的核心技術(shù)。透鏡內 FEI Trinity? 檢測技術(shù)能夠同時(shí)收集所有信號,既節省了時(shí)間還能形成鮮明的對比度,從而有助于采集盡可能多的數據。創(chuàng )新的透鏡下同心后散射檢測器能提高效率,使您可以根據信號的角分布選擇信號,從而輕松分離材料和形態(tài)對比度,即使著(zhù)陸能量為 20 eV 也是如此。

Scios 的材料科學(xué)應用

 

Scios DualBeam 特別適合用于金屬、復合物和涂層等眾多材料,能夠: 

  • 執行高分辨率、高對比度成像,對磁性樣本也不例外 

  • 使用獨有的 Trinity 檢測套件同步檢測材料、形態(tài)和邊緣對比度,從而分析材料的全部屬性 

  • 借助漂移抑制光刻,無(wú)需制備樣本即可制作具有位置特異性的切片,甚至可以對非導電材料進(jìn)行操作 

  • 生成三維數據立方體確定金屬中夾雜物的大小和分布,或對裂紋尖端各個(gè)方向的應力和應變進(jìn)行分析 

  • 搭配 EasyLift? 可快速可靠地制備高質(zhì)量樣本,而且只需*小的電子束能量即可獲得質(zhì)量的 S/TEM 結果 

  • 針對 DealBeam TM 常見(jiàn)應用提供獨有的“用戶(hù)指南”和逐步工作流,使得任何經(jīng)驗水平的操作員都能即刻上手

Scios 的生命科學(xué)應用

有效的生物成像需要使用能夠支持眾多不同應用且不會(huì )降低對比度和分辨率的多功能設備。FEI Scios 是***款特別易于使用且能力極其出眾的儀器,能使您的眾多不同應用和工作流更具靈活性,功能更強大,而且借助高效和增值工作流, Scios 能讓您在*短時(shí)間內獲得極為準確的結果



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