日本JEOL 電子探針顯微分析儀
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:00
品 牌:型 號:JXA-8230
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1243
400-006-7520
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日本JEOL 電子探針顯微分析儀 JXA-8230

可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線(xiàn)探測器,組合使用WDS和EDS,能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。
產(chǎn)品規格:
檢測元素范圍 | WDS:(Be)*1 /B~U, EDS:B~U |
X射線(xiàn)檢測范圍 | WDS檢測的波長(cháng)范圍: 0.087~9.3nm, EDS EDS檢測的能量范圍: 20keV |
分光譜儀數量 | WDS: 1~5道可選、EDS: 1臺 |
樣品尺寸 | 100mm × 100mm × 50mm(H) |
加速電壓 | 0~30kV(以0.1 kV為步長(cháng)) |
束流電流范圍 | 10-12 ~ 10-5 A |
束流電流穩定度 | 5%/h, ±0.3%/12h(W) |
二次電子分辨率 | 6nm(W), 5nm(LaB6)*2 (W.D. 11mm, 30kV) |
掃描倍率 | ×40 ~ ×300,000(W. D. 11mm) |
掃描圖像分辨率 | 5,120× 3,840 |
彩色顯示器 | EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024 SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024 |
光學(xué)顯微鏡 | |
分辨率 | ~1um |
焦深 | 1um |
真空系統 | 機械泵、分子泵、離子泵 *2 |
真空度 | 樣品室: 優(yōu)于8.0 x 10-4Pa, 電子槍: 優(yōu)于9.0 x 10-5Pa |
產(chǎn)品特點(diǎn):
· 可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線(xiàn)探測器,組合使用WDS和EDS,能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。
· 日本電子新開(kāi)發(fā)出的EPMA (電子探針)秉承近半個(gè)世紀的EPMA的發(fā)展歷史,JXA-8230具備用戶(hù)友好的操作、通過(guò)新式簡(jiǎn)單易用的PC 用戶(hù)界面提供完整范圍的高精度、快速分析,這是JEOL長(cháng)年來(lái)對高可靠性硬件不斷改良的結果。JXA-8230電子探針是下***代能完全滿(mǎn)足多種需求的強力分析工具。
·
· EPMA快速啟動(dòng)
· 點(diǎn)擊任何***點(diǎn),就能開(kāi)始預設的EDS定性、定量分析或WDS分析。
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· 用戶(hù)菜單(User recipes)
· 能保存或調用經(jīng)常使用的各種不同類(lèi)型的樣品分析條件,菜單中包括了全部的電子光學(xué)參數、EDS和WDS參數在內。
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·
· EDS 的性能
· 數字化脈沖處理器
· 全譜面分布(WD/ED, 樣品臺和電子束掃描)
· 無(wú)風(fēng)扇SDD (選配)
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