Helios NanoLab DualBeam

 ***直以來(lái)，Helios NanoLab 都綜合采用了 FEI 的*佳電子和離子光學(xué)系統、配件和軟件，能夠為尖端納米量***研究提供強大的解決方案。對于從事納米技術(shù)前沿研究的科學(xué)***，Helios NanoLab 能讓他們拓展研究邊界，為材料研究開(kāi)辟新的天地。 

借助極具價(jià)值的亞納米 SEM 成像技術(shù)、S/TEM 超薄樣本制備能力以及*精確的原型設計功能，科學(xué)***能夠將 Helios NanoLab 當作理想的研究伴侶，為未來(lái)的科技進(jìn)步開(kāi)發(fā)創(chuàng )新的新材料和納米量***器件。

Helios NanoLab 的材料科學(xué)應用

在材料科學(xué)領(lǐng)域，研究人員面臨的挑戰是持續改善目前制造的材料和設備的質(zhì)量。為了實(shí)現技術(shù)進(jìn)步，在納米量***了解結構和成分細節至關(guān)重要。Helios NanoLab 設計用來(lái)以低至亞納米量***的分辨率提供多尺度、多維度洞察，讓研究人員能夠觀(guān)測樣本*微小的細節。Helios NanoLab 還可為原子分辨率 S/TEM 成像迅速制備質(zhì)量的樣本。此外，如果研究工作包括開(kāi)發(fā) MEMS 或 NEMS 器件，也可配備 Helios NanoLab 打造全功能原型。

Helios NanoLab 的電子工業(yè)應用

Helios NanoLab 是***款極其靈活的平臺，既能以極高的效率制備 TEM 樣本，又能開(kāi)展高性能低電壓成像以分析高***邏輯和存儲器件。Helios Nanolab 具有大型和小型樣本室兩個(gè)配置，效率極高，并且是面向實(shí)驗室和近生產(chǎn)環(huán)境的低每樣本成本半導體分析工作流的關(guān)鍵組成部分。

Helios NanoLab 的自然資源應用

地質(zhì)學(xué)***和礦藏工程師可以使用 Helios NanoLab 技術(shù)對鉆屑和微芯開(kāi)展二維和三維巖石表征。它利用的 DualBeam 技術(shù)獨具特色，博采 FIB（聚焦離子束）銑削和 SEM（掃描電子顯微鏡）分析之長(cháng)。借助自動(dòng)化序列樣本銑削和成像功能，客戶(hù)可以創(chuàng )建二維序列圖像，進(jìn)而開(kāi)展三維容積重建。根據這些數據，客戶(hù)可以在微米至納米量***別觀(guān)測和量化孔隙網(wǎng)絡(luò )等紋理。

Helios NanoLab 的生命科學(xué)應用

要想在三維背景下了解生物事件，就必須采用專(zhuān)用的成像解決方案，而且這些成像解決方案應能以極高的分辨率呈現極小的細節，從而揭示出復雜網(wǎng)絡(luò )的超微結構和空間結構。Helios NanoLab 具有卓越的 SEM 性能和可靠、精確的 FIB 切片能力，還配備了高精度壓電工作臺，堪稱(chēng)小型 DualBeam 平臺的極致之選。出色的成像能力，輔以透鏡內和柱內檢測器提供的尖端高對比度檢測技術(shù)，能夠實(shí)現真正卓越的對比度。