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ZEISS GeminiSEM 450場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

價(jià)  格:詢(xún)價(jià)

產(chǎn)  地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:03

品  牌:型  號:GeminiSEM 450

狀  態(tài):正常點(diǎn)擊量:1953

400-006-7520
聯(lián)系我時(shí),請說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝!

上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

聯(lián) 系 人: 上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

電   話(huà): 400-006-7520

傳   真: 400-006-7520

配送方式: 上海自提或三方快遞

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GeminiSEM 系列產(chǎn)品

高對比度、低電壓成像的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡


為對任意樣品進(jìn)行高水準的成像和分析而生

蔡司GeminiSEM 系列產(chǎn)品具有出色的探測效率,能夠輕松地實(shí)現亞納米分辨成像。無(wú)論是在高真空還是在可變壓力模式下,更高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備更佳的靈活性,為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類(lèi)型樣品在微觀(guān)世界中清晰、真實(shí)的圖像,提供靈活、可靠的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。


GeminiSEM 450 具有出色的易用性設計、更快的響應和更高的表面靈敏度,使其能快速、靈活、可靠地對樣品進(jìn)行表面成像和分析,充當您的得力助手

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更高的速度與靈敏度,更好的成像和分析

GeminiSEM 450更快的響應和更高的表面靈敏度使其能快速、靈活、可靠地對樣品進(jìn)行表面成像和分析,簡(jiǎn)便、快速地進(jìn)行EDS能譜和EBSD等分析,同時(shí)保持出色的空間分辨率,充當您的得力助手。

  • 在EDS能譜和EBSD分析模式下仍保持高分辨率的成像,在低電壓條件下工作時(shí)更為優(yōu)異;

  • 可快速地對樣品進(jìn)行大范圍及高質(zhì)量成像;

  • 經(jīng)優(yōu)化的電子光學(xué)鏡筒,減少了工作過(guò)程中進(jìn)行重新校準的復雜流程,節省成像時(shí)間,提高工作效率;

  • 無(wú)論是不導電樣品、磁性樣品或是其他類(lèi)型的樣品,無(wú)論是高真空或是可變壓力模式,均可實(shí)現快速和高質(zhì)量的成像和分析.


洞察產(chǎn)品背后的科技

Gemini電子光學(xué)系統

Gemini 2類(lèi)型鏡筒-出色的綜合性能,為您所欲為

  • 要實(shí)現對任意樣品都能進(jìn)行高質(zhì)量的測試和表征,掃描電子顯微鏡必須在成像和分析方面都具備優(yōu)異的性能,同時(shí)能給用戶(hù)簡(jiǎn)單易用的操作體驗。如今,Gemini 2鏡筒可滿(mǎn)足您在這些方面的各種需求:

    • GeminiSEM 450 配置雙聚光鏡的Gemini 2類(lèi)型電子光學(xué)鏡筒;

    • 在確保獲得出色的小電子束斑的同時(shí),束流連續可調;

    • 可在低束流的高分辨率成像與高束流的分析模式之間進(jìn)行無(wú)縫切換;

    • 調整工作參數后無(wú)需對電子束進(jìn)行重新校準,為您節約時(shí)間,提高儀器效率;

    • 操作靈活易用,高電子束能量密度下的高分辨率成像,低束流分析,高束流分析等各類(lèi)不同的工作模式,***切由您而定;

    • 物鏡無(wú)漏磁設計,在大視野范圍成像和EBSD分析中不會(huì )引起畸變,確保獲得樣品高質(zhì)量的圖像;

    • 出色、穩定的電子光學(xué)鏡筒,對各種類(lèi)型的樣品都能簡(jiǎn)單快速的進(jìn)行高分辨率成像,即使在使用中樣品需要傾斜,甚至是對磁性樣品進(jìn)行成像;

    • P搭載局部電荷中和器或NanoVP可變壓力模式,有效地消除樣品的表面荷電,讓您在出色參數下對樣品進(jìn)行成像和分析.



技術(shù)參數:

基本規格蔡司 GeminiSEM 450

熱場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)€定性?xún)?yōu)于0.2 %/h
加速電壓
0.02 - 30 kV
探針電流
3 pA - 40 nA
(100 nA或300 nA配置可選)
存儲分辨率
達32k × 24k 像素
放大倍率
12 C 2,000,000
標配探測器
鏡筒內Inlens二次電子探測器
樣品室內的Everhart Thornley二次電子探測器

可選配的

項目





NanoVP可變壓力模式
高效VPSE探測器(包含在NanoVP可變壓力選件中)

局部電荷中和器

鏡筒內能量選擇背散射探測器

環(huán)形STEM探測器(aSTEM 4)

角度選擇背散射探測器


EDS能譜儀

EBSD探測器(背散射電子衍射)


可訂制特殊功能樣品臺
環(huán)形背散射電子探測器
陰極射線(xiàn)熒光探測器



產(chǎn)品參數


產(chǎn)品介紹



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