ZEISS GeminiSEM 450場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:03
品 牌:型 號:GeminiSEM 450
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1953
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GeminiSEM 系列產(chǎn)品
高對比度、低電壓成像的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
為對任意樣品進(jìn)行高水準的成像和分析而生
蔡司GeminiSEM 系列產(chǎn)品具有出色的探測效率,能夠輕松地實(shí)現亞納米分辨成像。無(wú)論是在高真空還是在可變壓力模式下,更高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備更佳的靈活性,為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類(lèi)型樣品在微觀(guān)世界中清晰、真實(shí)的圖像,提供靈活、可靠的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。
GeminiSEM 450 具有出色的易用性設計、更快的響應和更高的表面靈敏度,使其能快速、靈活、可靠地對樣品進(jìn)行表面成像和分析,充當您的得力助手
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更高的速度與靈敏度,更好的成像和分析
GeminiSEM 450更快的響應和更高的表面靈敏度使其能快速、靈活、可靠地對樣品進(jìn)行表面成像和分析,簡(jiǎn)便、快速地進(jìn)行EDS能譜和EBSD等分析,同時(shí)保持出色的空間分辨率,充當您的得力助手。
在EDS能譜和EBSD分析模式下仍保持高分辨率的成像,在低電壓條件下工作時(shí)更為優(yōu)異;
可快速地對樣品進(jìn)行大范圍及高質(zhì)量成像;
經(jīng)優(yōu)化的電子光學(xué)鏡筒,減少了工作過(guò)程中進(jìn)行重新校準的復雜流程,節省成像時(shí)間,提高工作效率;
無(wú)論是不導電樣品、磁性樣品或是其他類(lèi)型的樣品,無(wú)論是高真空或是可變壓力模式,均可實(shí)現快速和高質(zhì)量的成像和分析.
洞察產(chǎn)品背后的科技
Gemini電子光學(xué)系統
Gemini 2類(lèi)型鏡筒-出色的綜合性能,為您所欲為
技術(shù)參數:
基本規格 | 蔡司 GeminiSEM 450 |
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| 熱場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)€定性?xún)?yōu)于0.2 %/h
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加速電壓
| 0.02 - 30 kV |
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探針電流
| 3 pA - 40 nA |
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(100 nA或300 nA配置可選)
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存儲分辨率
| 達32k × 24k 像素 |
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放大倍率
| 12 C 2,000,000 |
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標配探測器
| 鏡筒內Inlens二次電子探測器
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樣品室內的Everhart Thornley二次電子探測器
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可選配的 項目
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NanoVP可變壓力模式 |
高效VPSE探測器(包含在NanoVP可變壓力選件中)
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局部電荷中和器 鏡筒內能量選擇背散射探測器
環(huán)形STEM探測器(aSTEM 4) 角度選擇背散射探測器 EDS能譜儀
EBSD探測器(背散射電子衍射)
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可訂制特殊功能樣品臺 |
環(huán)形背散射電子探測器 |
陰極射線(xiàn)熒光探測器
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