飛納臺式掃描電鏡 專(zhuān)業(yè)版
―― 智能、高效、多功能
放大倍數：20×-150,000× 分辨率：優(yōu)于8nm 電子槍?zhuān)?500小時(shí)CeB6燈絲 抽真空時(shí)間：10秒 樣品移動(dòng)方式：自動(dòng)馬達樣品臺 樣品定位方式：光學(xué)和低倍電子雙重導航 樣品導電性要求：無(wú)需噴金，直接觀(guān)測絕緣體 拓展功能：顆粒分析系統、3D粗糙度重建、纖維統計測量、孔徑測量系統、高倍拼圖等 環(huán)境掃描選件（ESEM）：溫控樣品臺，可直接觀(guān)測液體 |
Phenom Pro （飛納臺式掃描電鏡 專(zhuān)業(yè)版）是Phenom（飛納）產(chǎn)品中*的型號，在繼承了Phenom（飛納）代（G1）產(chǎn)品操作方便、30秒快速成優(yōu)質(zhì)圖像、售后無(wú)憂(yōu)等優(yōu)點(diǎn)的同時(shí)，電鏡分辨率和圖像質(zhì)量顯著(zhù)提高。 采用了壽命高達1500小時(shí)的新***代CeB6燈絲和分辨率更高，功能更全的光學(xué)顯微鏡，提高后的光學(xué)顯微鏡有聚焦功能，放大倍數在20-150000倍之間，具備明場(chǎng)和暗場(chǎng)兩種模式。 |
表面形貌和成分信息同時(shí)展現
背散射電子的產(chǎn)率、出射角度與樣品成份及表面形貌相關(guān)。Phenom（飛納）采用4分割半導體背散射電子探測器，為您提供兩種成像模式，模式之間可迅速切換：
成份模式：同時(shí)給出樣品表面形貌與成份信息，不同元素可由其灰度對比度的不同加以分辨；
形貌模式：去除成份信息，樣品表面凹凸起伏等微觀(guān)結構更加明晰，適用于表面粗糙度和缺陷分析；
Phenom（飛納）樣品杯、低真空設計、的真空封鎖技術(shù)，裝入樣品后30秒內即可得到高質(zhì)量圖像，耗時(shí)僅為傳統電鏡的1/10左右。
直接觀(guān)看絕緣體，無(wú)需噴金
Phenom（飛納）采用低真空技術(shù)，出射電子與空氣分子碰撞產(chǎn)生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，有效抑制荷電效應的產(chǎn)生，直接觀(guān)測各種不導電樣品。
利用降低荷電效應樣品杯，更可將開(kāi)始荷電的放大倍數提高8倍左右，而且不會(huì )影響燈絲壽命，下圖頭發(fā)示例：
操作簡(jiǎn)便，全程導航
自動(dòng)/手動(dòng)聚焦
自動(dòng)/手動(dòng)亮度
自動(dòng)/手動(dòng)對比度
自動(dòng)燈絲居中調節
自動(dòng)馬達樣品臺
光學(xué)/電子樣品導航
Phenom（飛納）操作界面。通過(guò)點(diǎn)擊右側圖標可以輕松完成圖像縮放、聚焦、亮度對比度調節、旋轉等操作。界面右側顯示光學(xué)導航和低倍SEM導航窗口，方便用戶(hù)在不同樣品、不同區域間進(jìn)行切換。
環(huán)境適應性高，完全防震
Phenom（飛納）可以放置在幾乎所有的室內環(huán)境當中，無(wú)需超凈間。采用燈絲、探測器、樣品臺相對***體化的設計，震動(dòng)不會(huì )引起三者間的相對運動(dòng)，使Phenom（飛納）成像不受震動(dòng)影響，可放置在較高樓層。
互聯(lián)網(wǎng)遠程檢測
Phenom（飛納）擁有遠程檢測功能，通過(guò)網(wǎng)絡(luò )，專(zhuān)業(yè)工程師可隨時(shí)為您遠程檢測系統、答疑解難，為您提供全方位的保護，讓您的Phenom（飛納）隨時(shí)處于*佳工作狀態(tài)。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
