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掃描電化學(xué)顯微系統（SECM）

交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統（ac-SECM）

間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統（ic-SECM）

微區電化學(xué)阻抗測試系統(LEIS)

掃描振動(dòng)點(diǎn)擊測試系統（SVET）

電解液微滴掃描系統（SDS）

交流電解液微滴掃描系統（ac-SDS）

掃描開(kāi)爾文探針測試系統（SKP）

非觸式微區形貌測試系統（OSP）

出色的性能 

快速***的閉環(huán)定位系統為電化學(xué)掃描探針納米***研究的需求而特別設計。結合Uniscan 獨特的混合型32-bit DAC技術(shù)，用戶(hù)可以選擇合適實(shí)驗研究的zui佳配置

和靈活的工作平臺

系統可提供9種探針技術(shù)，使得M470成為全球zui靈活的電化學(xué)掃描灘鎮工作平臺。

全面的附件

7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長(cháng)距顯微鏡以及后處理數據分析軟件。

M470微區掃描電化學(xué)工作站新產(chǎn)品特征

SECM自動(dòng)處理曲線(xiàn)

SECM用戶(hù)自定義處理曲線(xiàn)步長(cháng)變化

高分辨率讀取

手動(dòng)或自動(dòng)調節相位

M470同時(shí)具備如下特點(diǎn)：

傾斜校正

X或Y曲線(xiàn)相減（5階多項式）

2D或3D快速傅里葉變化

實(shí)驗，探針移動(dòng)和區域繪圖的自動(dòng)排序

圖形實(shí)驗測序引擎（GESE）

支持多區域掃描

所有實(shí)驗多個(gè)數據視圖

峰值分析

M470微區掃描電化學(xué)工作站是由Uniscan儀器開(kāi)發(fā)的第四代掃描探針系統，具有更高規格和更多探針技術(shù)。

M470技術(shù)參數

工作站（所有技術(shù)）

掃描范圍（x,y,z）           大于105nm

掃描驅動(dòng)分辨率              zui高0.1nm

閉環(huán)定位                    線(xiàn)性零滯后編碼器，直接實(shí)時(shí)讀出x,z和y位移

軸分辨率（x,y,z）            20nm

zui大掃描速度                 12.5mm/s

測量分辨率                   32-bit解碼器@高達40MHz

壓電（ic-和ac-掃描探針技術(shù)）

振動(dòng)范圍                20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量

zui小振動(dòng)分辨率          0.12nm(16-bit DAC,4μm)

壓電晶體伸展            100μm

定位分辨率              0.09nm(20-bit DAC ,100μm)

機電

掃描前端                500×420×675mm(H×W×D)

掃描控制單元            275×450×400mm(H×W×D)

功率                    250W