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蔡司鎢燈絲掃描電鏡EVO MA 15的問(wèn)世，將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時(shí)代，超大樣品室為各類(lèi)繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動(dòng)化的5軸樣品臺和大的X、Y、Z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢測模式使得EVO MA 15能夠廣泛適用于各類(lèi)樣品的檢測工作，EVO MA 15作為***款研究***掃描電鏡能夠為您提供*完美的視覺(jué)圖像和*廣泛的應用領(lǐng)域。

【技術(shù)參數】

分辨率：3.0nm@ 30KV(SE and W)  4.0nm@ 30KV(VP with BSD) 

加速電壓：0.2―30KV 

放大倍數：5―1000000x 

探針電流：0.5PA-5μA 

X-射線(xiàn)分析工作距離：8.5mm     35度接收角 

壓力范圍：10―400Pa (LS15:環(huán)掃模式10-3000Pa)

工作室：365mm(φ)×275mm(h) 

5軸優(yōu)中心自動(dòng)樣品臺：X=125mm  Y=125mm  Z=50mm  T=-10°- 90°°R=360° 

試樣高度：145mm，試樣直徑：250mm 

系統控制：基于Windows 7 的SmartSEM操作系統

【主要特點(diǎn)】

能在可變壓力下操作 

X射線(xiàn)和EBSD分析 

可移動(dòng)大平臺 

快抽真空 

未來(lái)的保證，可升***在高壓和水蒸氣下成像和分析 

高亮度LaB6資源選擇 

光線(xiàn)套選擇

掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀(guān)形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀(guān)察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線(xiàn)掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。