FEI Inspect 掃描電子顯微鏡
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:01
品 牌:型 號:Inspect F/S
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1184
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InspectTM系列滿(mǎn)足傳統高分辨率樣品研究所需的***切,簡(jiǎn)單易用的 InspectTM 專(zhuān)為滿(mǎn)足研究各類(lèi)材料以及表征材料結構和成分的主流需求而設計,配備高穩定分辨率平臺,可滿(mǎn)足大多數研究的需要。簡(jiǎn)單易用的界面可實(shí)現準確、快速的數據收集:將表面形貌和成分圖像與快速元素分析結合,確定材料特性及其化學(xué)元素組成。在眾多領(lǐng)域,高分辨率和高電流 FEG 掃描電鏡的價(jià)值在于有助應對生成高品質(zhì)圖像和實(shí)施快速分析的挑戰。
Inspect系列是這些基礎研究應用領(lǐng)域主流而靈活的解決方案。用戶(hù)界面簡(jiǎn)單、易學(xué)且靈活,足以應對復雜環(huán)境內不同項目個(gè)別研究需求不同的挑戰。例如,標準導航功能包括樣品臺移動(dòng)雙擊控制和拖放變焦。SmartSCANTM技術(shù)采用針對困難樣品的智能掃描策略,可減少噪聲,提供zui優(yōu)質(zhì)的數據。該儀器系列的設計源于顯微鏡工作者,并用于顯微鏡工作者,是***款真正超越僅有“易用性”的產(chǎn)品。
許多可用的新功能有助定制 InspectTM系列使其可實(shí)現特定的表征。諸如射束減速等新功能可將傳統 FEG 掃描電鏡的低加速電壓性能提升至全新的高度。Nav-Cam? 彩色圖像導航和新探測器令 InspectTM系列 具備更大的靈活性。更優(yōu)質(zhì)的數據、更大的靈活性、更高的效率,InspectTM 可實(shí)現快速簡(jiǎn)單的操作,迅速獲知答案,實(shí)現投資價(jià)值。


