日本JEOL聚焦離子束(FIB) JIB-4500
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:日本更新時(shí)間:2020-10-21 11:21
品 牌:JEOL型 號:JIB-4500
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2055
400-006-7520
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1.監控、切割、組裝和三維圖像重構連續操作
2大束流,***大30nA
3.提供空前穩定的圖像
4.低真空功能適用于非導體樣品
5.氣體注入系統用于刻蝕和沉積
6.***大裝樣 150 mm
7.氣鎖式樣品交換
8.五軸全對中樣品臺
9.多個(gè)樣品分析接口
產(chǎn)品參數
FIB 分辨率: 5nm, 30kV
SEM分辨率: 2.5nm, 30kV (LaB6)
樣品臺: X/Y 76 mm, Z 5 to 48 mm
T -10 to 90度
R 360 度
標準: LV 模式, BEI,
氣體輸入系統 x1
產(chǎn)品介紹
JIB-4500是集成掃描電鏡和聚焦離子束于***身高性能儀器。它采用六硼化鑭燈絲,可以對進(jìn)行實(shí)時(shí)研磨監控。該儀器又是***個(gè)微區觀(guān)察、樣品分析、微區研磨的集合體,應用范圍廣泛。