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CLJ-E 半導體激光埃粒子計數器

CLJ-E型（半導體激光）塵埃粒子計數器

CLJ-E型激光塵埃粒子計數器用于測量潔凈環(huán)境中單位體積空氣內的塵埃粒子大小及數目，可直接檢測潔凈度等***為百***至*的潔凈環(huán)境。本儀器采用了半導體激光光源，高亮度數碼管顯示，體積小、重量輕、檢測精度高、功能操作簡(jiǎn)單明了，微處理器控制，可貯存、打印測量結果，可判定凈化***別，測試潔凈環(huán)境十分便利。

該產(chǎn)品廣泛應用于電子、光學(xué)、化學(xué)、食品、化妝品、生物制品、航空航天等部門(mén)。

CLJ-E 半導體激光埃粒子計數器

主要技術(shù)參數及性能：

1.光源:全半導體激光光源

2.采樣量:2.83L/min(0.1cfm/min)瑞士原裝進(jìn)口1%FS高精度流量計校驗流量

3.流量氣泵：進(jìn)口采樣泵

4.檢測范圍:100級～100萬(wàn)級  

5.允許被測試空氣的含塵濃度≯10萬(wàn)顆/2.83L

6.粒徑通道:0.3 0.5 1.0 3.0  5.0 10.0μm六檔

7.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。

8.采樣周期:1～10 (min)

9.自?xún)魰r(shí)間:≤10 (min)

10.校準：我公司已通過(guò)計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術(shù)研究院可自行進(jìn)行校準或第三方計量機構進(jìn)行校準

11.工作環(huán)境:溫度:10～35℃   相對濕度:20～75%RH

12.zui大功耗:20W

13.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）

（1）溫度：0～50℃±1℃

（2）濕度：0～100%RH±5%

14.采樣點(diǎn)數  2～9點(diǎn)設定

15.每點(diǎn)采樣次數  2～9次設定

16.UCL報表0：0000000符合FS-209E、中國GMP的標準

17.工作時(shí)間：8小時(shí)

CLJ-E 半導體激光埃粒子計數器