中空玻璃露點(diǎn)儀-半導體式中空玻璃露點(diǎn)儀
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:上海更新時(shí)間:2020-11-04 14:38
品 牌:標準集團型 號:中空玻璃露點(diǎn)儀
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1200
400-006-7520
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中空玻璃露點(diǎn)儀-半導體式中空玻璃露點(diǎn)儀產(chǎn)品特點(diǎn):
1. 采用半導體三***制冷的技術(shù),制冷的溫度可以精確設定和控制,制冷速度快,操作十分方便,不僅可以在試驗室內使用,而且可在現場(chǎng)進(jìn)行檢測,不需要使用容易揮發(fā)的干冰,使用方便且使用成本低廉。
2. 探頭和制冷機組可實(shí)現完全分離,方便實(shí)用且不受試件方向限制。
3. 集成了電源、冷卻、循環(huán)和控制系統,實(shí)現全過(guò)程自動(dòng)控制,機箱和探頭由軟管連接,檢測時(shí)探頭的工作面與試件接觸,探頭的工作面可以為任意方向。
4. 采用pt100溫度探頭,測量精度高,數據準確。
5.溫度值控制采用微機溫控PID調節技術(shù),控溫精度高,溫度穩定性高。
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品描述:
1. 名稱(chēng):中空玻璃露點(diǎn)儀(半導體式)
2. 型號:G
3. 執行標準:GB/T11944-2012《中空玻璃》關(guān)于露點(diǎn)測定部分
4. 介紹:IMLD-B中空玻璃露點(diǎn)儀是根據******標準GB/T 11944—2012規定的技術(shù)條件制造的***種儀器。
5. 用于檢測中空玻璃試樣內表面在標準規定條件和方法情況下是否結露。
6. 應用領(lǐng)域:大專(zhuān)院校、科研單位、中空玻璃生產(chǎn)、使用單位以及相關(guān)檢測單位。