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應力雙折射測量?jì)x

PA-200高速應力雙折射測量?jì)x

應力雙折射測試儀器簡(jiǎn)介：

應力雙折射儀，能夠快速、精確測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。

應力雙折射測試儀器主要產(chǎn)品分四部分：

• n 光子晶體光學(xué)元件；

• 雙折射和相位差評價(jià)系統；

• 膜厚測試儀；

• 偏振成像相機。

『相位差』『雙折射』『內部應力』測量裝置 WPA/PA系列

• 快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內的相位差、雙折射和內部應力應變分布

PA/WPA系統特點(diǎn)：

• 操作簡(jiǎn)單/快速測定：獨特的偏振成像傳感器進(jìn)行簡(jiǎn)單的和快速的操作即可測量相位差的分布

• 2D數據的多方面分析功能：二維數據的強大分析功能，能夠直觀(guān)解釋被測樣品的特性。

• 相位差測試能力（WPA系列）：通過(guò)對三組不同波長(cháng)的測量數據進(jìn)行計算，WPA系統可以測量出幾千nm范圍內的相位差。

高速雙折射測量 PA-200，PA-200-L

        低相位差（如玻璃）的全面測試 

        針對相位差差別比較小的樣品，要求測量速度高的應用，專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)了PA系列的產(chǎn)品，測量速度快是核心。廣泛應用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。

高速雙折射測量產(chǎn)品特點(diǎn)：

     曲線(xiàn)圖功能

    CSV格式輸出

    軸相位差顯示

    縮放鏡頭功能

l 用于低相位差樣品測試的標準系統。

l 適用于檢測玻璃的應力或者透明晶片（如藍寶石、SiC和GaN）的內部缺陷。

PHL高速雙折射測量技術(shù)參數：

高速雙折射測量應用領(lǐng)域：

玻璃，顯示組件，注塑塑料件，拉伸纖維，光纖器件，微影手提袋，鏡片毛坯，鏡片，硅片，礦產(chǎn)，激光晶體，液態(tài)晶體，雙折射晶體等。