大平臺高倍率金相顯微鏡
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 12:39
品 牌:型 號:XLE-3
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1098
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XLE-3大平臺金相顯微測量分析系統是從SJ2008基礎上改進(jìn)而成的。它包括數碼金相顯微鏡及高***圖像測量分析軟件.系統集成了傳統目視與現代影像功能,它擁有內置高亮度可持續調節的同軸光,.254mmx254mm大范圍載物移動(dòng)平臺,高達400X-4000X的電子放大倍率和40 X-400 X的光學(xué)放大倍率, ±300納米測量精度,使成像更加清晰可見(jiàn).專(zhuān)業(yè)開(kāi)發(fā)高***圖像測量分析軟件,能夠快速精確的捕捉各種圖像,具有圖像測量、管理及處理等功能.產(chǎn)品適用于IC芯片、PCB覆銅板、液晶屏導電離子的檢測和工礦、科研,教學(xué)等單位研究和觀(guān)察等.尤其對于細小顆粒、粉末試樣、大批金相和大面積硅片的檢測,可得到完美的圖像效果. 本產(chǎn)品是經(jīng)濟普及型亞納米***測量產(chǎn)品,比同類(lèi)產(chǎn)品具有優(yōu)越的性?xún)r(jià)比.