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 功能特點(diǎn)：

可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業(yè)試樣的檢驗，是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子工程學(xué)等研究的理想儀器

技術(shù)參數：

▲      采用無(wú)限遠光學(xué)系統及模塊化功能設計。

▲      長(cháng)工作距離明/暗視場(chǎng)平場(chǎng)物鏡，視場(chǎng)大而清晰。

▲      廣角平場(chǎng)目鏡：視場(chǎng)直徑Ф22mm。

▲      粗微動(dòng)同軸調焦機構，粗動(dòng)松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動(dòng)格值:2μm。

▲      內置式可切換偏光觀(guān)察裝置，起偏器可360°旋轉。

▲      上光源采用翻蓋式12V50W鹵素燈箱，更換燈炮安全便捷，下光源采用12V30W鹵素燈，加裝散熱片。

▲      三目鏡筒可自由切換目視觀(guān)察與顯微攝影，攝影時(shí)可***通光，適合暗視場(chǎng)顯微圖像拍攝。

基本配置：

可選附件：