OLYMPUS LEXT OLS4500 納米檢測顯微鏡
品牌：奧林巴斯
型號：OLS4500
■產(chǎn)品介紹
OLYMPUS LEXT OLS4500是結合了傳統光學(xué)顯微鏡、激光掃描顯微鏡（LSM）以及探針掃描顯微鏡（SPM）功能的***體機。LEXT OLS4500可以滿(mǎn)足不同樣品的觀(guān)測需求，是***臺新時(shí)代的觀(guān)察、測量裝置。
LEXT OLS4500可以輕松實(shí)現從毫米到納米的觀(guān)察和測量，放大倍率由幾十倍到高達百萬(wàn)倍。找到觀(guān)測目標（觀(guān)察對象）后，您可以在光學(xué)顯微鏡模式、激光顯微鏡模式和探針顯微鏡模式之間自由切換，而不用擔心目標丟失。并且您可以使用探針顯微鏡迅速而正確的完成觀(guān)察，大大縮短了獲取影像的時(shí)間。這些便是OLS4500***體機的自由操作帶給您的益處。更加方便、更加順利地完成超大范圍觀(guān)察和測量。實(shí)現了自由切換操作的LEXT OLS4500。
光學(xué)顯微鏡是從樣品上方照射可見(jiàn)光（波長(cháng)約400 nm到800 nm）， 利用其反射光成像， 能夠放大樣品數十倍到***千倍左右進(jìn)行觀(guān)察。光學(xué)顯微鏡的特長(cháng)是可以真實(shí)觀(guān)察彩色樣品， 還可以切換觀(guān)察方法， 強調樣品表面的凹凸， 利用物質(zhì)的特性（偏光性）進(jìn)行觀(guān)察。OLS4500上可以使用：明視場(chǎng)觀(guān)察，微分干涉觀(guān)察，簡(jiǎn)易偏振光觀(guān)察。
LEXT OLS4500采用405 nm的短波長(cháng)半導體激光、高數值孔徑的專(zhuān)用物鏡、以及獨特的共焦光學(xué)系統，可以達到0.12 μm的平面分辨率。此外，OLS4500配有奧林巴斯獨有的掃描加掃描型2D掃描儀，可以實(shí)現高達4096×4096像素的高精度XY掃描。
OLS4500上采用了光杠桿法――通過(guò)高靈敏度檢測出*前端裝有探針的微懸臂的微小彎曲量（位移）來(lái)進(jìn)行觀(guān)測的方法。在懸臂的背面反射激光，并用壓電元件驅動(dòng)Z軸，使激光照射到光電檢測器的指定位置，從而正確讀取Z方向的微小位移。OLS4500配有：接觸模式，動(dòng)態(tài)模式，相位模式，電流模式，表面電位模式（KFM），磁力模式（MFM）。
■應用
LEXT OLS4500可用來(lái)測量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D 表面形貌、
2D 的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。
? 精密部件：檢測對表面磨損，表面粗糙度，表面微結構有要求的零部件；
? 生命科學(xué)
? 微電子機械系統：微型器件的檢測，醫藥工程中組織結構的檢測，如基因芯片等
? 半導體：檢測微型電子系統，封裝及輔助產(chǎn)品結構設計
? 太陽(yáng)能：太陽(yáng)能電池片柵線(xiàn)的3D 形貌表征、高寬比測量，制絨后3D 形貌表征（單
晶金字塔大小、數量、角度，多晶腐蝕坑形貌、密度），粗糙度分析等
? 紙張：紙張、錢(qián)幣表面三維形貌測量
? LED行業(yè)
■技術(shù)參數
LSM部分
光源：白光LED，405nm半導體激光
檢出系統：光電倍增管
分辨率：移動(dòng)分辨率10nm，顯示分辨率1nm
物鏡轉換器：6孔電動(dòng)物鏡轉換器
物鏡：100x，50x，20x等（可選）
變焦：光學(xué)變焦：1～8X，數碼變焦：1～8X
SPM部分
光源：659nm半導體激光
檢出設備：光電檢測器
掃描范圍：X/Y 方向，30μm x 30μm， Z 方向：4.6μm，
微懸臂規格：根據用途不同微懸臂有不同型號、類(lèi)型
工作電源：100-240V, 50-60Hz,
總重量：約440KG
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
