Lyncee Tec DHM®數字全息顯微鏡
Characterize your samples like you couldn’t before
數字全息顯微鏡DHM®是全息技術(shù)應用在顯微領(lǐng)域的***項技術(shù)。DHM® 相比其他顯微術(shù)的獨特優(yōu)勢在于它無(wú)須掃描或接觸樣品,既能實(shí)現樣品靜態(tài)和動(dòng)態(tài)三維表征,為材料學(xué)和生命科學(xué)領(lǐng)域內的諸多應用提供各種解決方案。
DHM®為產(chǎn)品研發(fā)和工業(yè)應用提供的全套解決方案包括了硬件設備、專(zhuān)用數據采集和分析軟件、以及多種可項配件。
DHM®有兩種針對不同應用的產(chǎn)品:能夠穿過(guò)透明樣品的透射式DHM®和能夠測量經(jīng)過(guò)樣品表面反射波前的反射式DHM®。Lyncée Tec 提供標準型DHM,同時(shí)也能為滿(mǎn)足客戶(hù)特殊需求提供定制服務(wù)和OEM系統,例如說(shuō)光源的選擇是可以按照客戶(hù)需求進(jìn)行定制的。如果您有特殊需求或者應用,歡迎隨時(shí)聯(lián)系我們,我們將為您提供量身定制的技術(shù)咨詢(xún)和解決方案。

反射式數字全息顯微鏡DHM®
反射式DHM® 測量的是經(jīng)過(guò)樣品表面反射的波前信息。
DHM® 遠遠不止是***臺標準的光學(xué)輪廓儀,它能在實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)下測量從幾納米到幾百微米垂直范圍內的形貌,并且始終保持亞納米的垂直精度。
應用范圍:
三維形貌表征
表面粗糙度
缺陷檢測
薄膜形貌
MEMS振動(dòng)測量分析

透射式數字全息顯微鏡DHM®
透射式DHM® 測量的是光束穿過(guò)透明樣品而產(chǎn)生的光程差。
在測量微光學(xué)元件、微流道器件以及透明樣品中的缺陷和顆粒等應用中,透射式DHM® 往往是 選擇。
DHM®的使用先鋒者們早已經(jīng)在各種開(kāi)創(chuàng )性的學(xué)術(shù)論文中演示了如何解讀生物樣品的全息圖像。透射式DHM®是細胞樣品成像的 選擇。
DHM®擁有 的優(yōu)勢
適合各種研發(fā)和工業(yè)需求
超短時(shí)間讀取大量圖片
高速測試大批量樣品
適應各種實(shí)驗需求,可靈活定制針對不同產(chǎn)品的工業(yè)質(zhì)量監控
更進(jìn)***步,連接研發(fā)和自動(dòng)化生產(chǎn)
全新的方式和角度觀(guān)測樣品
引導新的研究和應用方向
觀(guān)測動(dòng)態(tài)響應
真實(shí)環(huán)境狀態(tài)下測量樣品
的用戶(hù)體驗帶來(lái)全新的實(shí)驗數據和視角
直觀(guān)地獲取瞬時(shí)測量結果
與您的樣品實(shí)時(shí)互動(dòng)
友好直觀(guān)地使用界面
快速測量,省時(shí)省力
降低您的維護成本
DHM獨特的參照光路設置確保系統只需程度的校準維護
無(wú)任何復雜掃描部件,運營(yíng)成本低
作為4D動(dòng)態(tài)輪廓測量的獨有優(yōu)勢
多環(huán)境下測量,例如高壓、真空、各種氣體或可調節濕度環(huán)境等
無(wú)須防震臺、無(wú)激光干涉的噪點(diǎn)、無(wú)信號損失
作為生物樣品成像的獨有優(yōu)勢
長(cháng)時(shí)間非侵入觀(guān)察
測量便利,無(wú)須細胞標記和其他準備
量化相襯分析,提供全新的生物樣本信息
可選熒光模塊
數字自動(dòng)聚焦
創(chuàng )新研究祝您的研究成果在高水平科學(xué)期刊發(fā)表
系統配置 |
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圖像類(lèi)型 | 全息圖、光強圖、量化相位圖、可調三維視圖 |
光源 | 單波長(cháng)、雙波長(cháng)或三波長(cháng)激光源(激光均為單色) |
樣品臺 | 手動(dòng)樣品臺或 XYZ軸自動(dòng)樣品臺,可移動(dòng)范圍 300 mm x 300 mm x 38 mm |
相機 | 標準155 fps (1024 x 1024) 或者特殊高速 1000 fps (1024 x 1024) |
可選物鏡 | ? 放大倍數從 1.25x 到 100x ? 可選配標準、高數值孔徑NA、長(cháng)工作距、水鏡、油鏡等 |
物鏡安裝 | 6口物鏡旋轉塔 |
電腦 | *新多核工作站, Intel® 多核處理器,高性能顯卡,*小21寸液晶顯示器,鼠標,鍵盤(pán) |
軟件 | 基于C++ 和 .NET的專(zhuān)用數據采集和分析軟件Koala可選專(zhuān)用分析軟件針對不同應用:MEMEs Analysis Tool, Reflectomery Analysis, Cell Analysis Tool (Available soon) |
性能參數 |
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圖像抓取時(shí)間 | 標準: 60 μs (可選高速只需 10 μs) |
圖像抓取速率 | 標準: 155 fps (1024 x 1024). (可選 1000 fps). 由相機快門(mén)速率決定 |
數值重建速率 | 標準 25 fps (1024 x 1024),由電腦運算速率決定. (可選 100 fps) |
精度 (定義為對單***像素點(diǎn)做30次測量后取時(shí)域標準差) | 小至 0.15 nm |
垂直分辨率 (定義為兩倍于精度) | 小至 0.30 nm |
可重復性 (as demonstrated by taking the one sigma Rq value of 30 repeatability measurements on SiC reference mirror) | 小至 0.01 nm |
垂直校準 | 由干涉濾波決定, ±0.1 nm |
動(dòng)態(tài)可測垂直高度(無(wú)須掃描情況下) | 對于連續結構可達 200 μm對于臺階可達 12 μm |
垂直掃描下的可測垂直高度 | 由電動(dòng)樣品臺決定,達 10 mm |
水平分辨率 | 由所選物鏡決定, 300 nm |
視場(chǎng) | 由所選物鏡決定, 5 mm x 5 mm |
工作距 | 由所選物鏡決定, 從0.3 mm 到 18 mm |
數字自動(dòng)聚焦范圍 | 由所選物鏡決定, 可達景深的 50倍 |
采樣空間 | 1024 x 1024 像素點(diǎn) |
可測樣品反射率 (僅對反射式 DHM ) | < 1% |
樣品照明 | 小至 1 μW/cm2 |
電源電壓 |
輸入電壓 | 85-260 VAC C 50/60 Hz |
功耗 | 250 W |
尺寸重量 |
尺寸 (長(cháng) x 寬 x 高) | 600 x 600 x 800 mm |
重量 | 45 kg |