~ 樣品體積LxWxH：300 x ∞ x 150 mm 500 x ∞ x 48 mm
~ 樣品尺寸 LxW：105 x 105 mm Ø 300 mm 500 x 500 mm
~ 接觸角測量范圍：0 to 180 °C，分辨率：+/- 0.1 °C
~ 表面張力測量范圍：1x10-2 to 100 mN/m；分辨率：0.1 mN/m
~ 光學(xué)系統：7-fold Zoom；視野范圍FOV 3.2 to 22.5 mm 1.6 to 11 mm diagonal；光漂離
補償；聚焦模塊；高性能的可變視野照明；自動(dòng)偏離效正
~ 攝像系統：50 楨 360 or 1000 fp/s optional；Online max. 100 evaluations / second；
Video sequences duration depending on RAM；
軟件自動(dòng)觸發(fā)計算和攝像
~ 軟件：6種不同的方法分析座滴形態(tài)，自動(dòng)基線(xiàn)調整，接觸角測量范圍在 0 to 180 °C，可選
擇曲面基線(xiàn)。垂滴方法計算液體的表面/界面張力，錄像，程序設定，自動(dòng)進(jìn)樣設定，通過(guò)
Fowkes,extended Fowkes, Wu, Zismann, Owens-Wendt-Rabel, van Oss & Good, Neumann等
方法計算固體的表面自由能，濕潤性等…
~ 溫度范圍：-60 to 400 °C
~
儀器尺寸 LxWxH：380 x 620 x 610 mm 380 x 954 x 610
~ 重量：25 to 45 kg
~ 電壓：110 to 240 VAC
測量方法：
~ Sessile & Captive Drop Method staticdynamic
~ Tilting Drop Method
~ Sessile Drop Method
選件：
~ DS3201 - 手動(dòng)直接進(jìn)樣用于十分困難測量樣品
~ DS3210 - 軟件控制的直接進(jìn)樣
~ DS3202 - The fastest solution for reproducible volumes: The manual direct jet
dosing system
~ DS3228 - PC控制的多滴定系統，*多可達8個(gè)進(jìn)樣頭
~ TC40 - The peltier temperature chamber for highest demands. The KRÜSS peltier
chamber is characterized by very fast temperature changes, no
condensation problem at windows due to 2 separate innerouter
housingsmovable inner sample stage.
~ ST3270 - Both manualelectronic wafer stages are available. They can be
integrated in DSA100DSA100L.
~ TC21 - 大的溫度控制工作臺
~ 獨特的液滴觀(guān)測角的調正技術(shù)，隨時(shí)可以觀(guān)測液滴的形態(tài)，操作就象兒童游戲***樣的簡(jiǎn)單。
~ 進(jìn)樣系統的微調功能可以?xún)H僅調整
進(jìn)樣器的位置。
~ 智能化的進(jìn)樣系統，樣品更換更加簡(jiǎn)單，完全避免了樣品間相互交叉污染的危險。
~ 創(chuàng )新的光學(xué)結構的設計，即使很大的樣品也可以輕松地在
標準樣品臺上測量。
~ 新型的照明系統消除所有雜散光的干擾。
~ 創(chuàng )新的軟件設計支持用戶(hù)在任何時(shí)間都可以運行事先設定好的程序或模塊。
~ 個(gè)性化的樣品臺，隨意調整，不同的加熱/制冷工作臺，可以滿(mǎn)足不同條件的特殊樣品的要求。
~ 新型的 Peltier 溫控室， 自動(dòng)溫度調節快速，精確。
~ 照明系統，提供強的光能量，極低的熱輻射。
~ 完全模塊設計, 可以全手動(dòng)或全自動(dòng)調節固體樣品的位置
~ 手動(dòng)或自動(dòng)測量多達8個(gè)樣品
~ 使用DSA100L，使大的樣品測量異常簡(jiǎn)單
應用：
~ 評價(jià)表面處理程度
~ 考察粘膠特性
~ 表面純度考核
~ 紡織行業(yè)印染的*佳化選擇
~ 晶片及微電子產(chǎn)品的質(zhì)量控制
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
