光學(xué)膜厚測量?jì)x
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-15 17:58
品 牌:型 號:ST2000/ST4000/ST5000/ST6000/ST7000
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1600
400-006-7520
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上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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上海自提或三方快遞
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1) 因為是利用光的方式,所以是非接觸式,非破壞式,不會(huì )影響實(shí)驗樣品。
2) 可獲得薄膜的厚度和 n,k 數據。
3) 測量迅速正確,且不必為測量而破壞或加工實(shí)驗樣品。
4) 可測量 3層以?xún)鹊亩鄬幽ぁ?br>
5) 根據用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6) 產(chǎn)品款式多樣,而且也可以根據顧客的要求設計產(chǎn)品。
7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 適用于大學(xué),研究室等