梅特勒AB265-S電子天平|電子分析天平
1.采用高分辨率的稱(chēng)量單元,滿(mǎn)足用戶(hù)高精度的稱(chēng)量需求
2.稱(chēng)量單元保護裝置(CellProtector),提高產(chǎn)品的抗沖擊、過(guò)載性能
3.堅固的金屬機架,避免稱(chēng)量樣品的污染,延長(cháng)天平的使用壽命
4.可讀性為0.1mg天平采用背亮式液晶顯示屏(Backlit LCD),方便用戶(hù)讀取稱(chēng)量結果
5.內置砝碼校準,確保稱(chēng)量結果的[accuracy]性
6.雙量程(DualRange)設計,滿(mǎn)足客戶(hù)對不同樣品的稱(chēng)量需求
7.可以拆除的防風(fēng)罩設計,實(shí)現天平的快速清潔
8.內置RS232通訊接口,方便連接打印機、電腦等外圍設備
9.標配機架塑料保護罩(Protective cover),避免散落樣品的腐蝕
10.具有簡(jiǎn)單稱(chēng)量、百分比稱(chēng)量、計件稱(chēng)量和動(dòng)態(tài)稱(chēng)量等內置應用程序
AB-L:外置砝碼校準(需選購);
AB-S:內置砝碼校準;
AB-IC:內置砝碼校準;
AB-S/FACT:采用溫度漂移及時(shí)間設置觸發(fā)的全自動(dòng)校準技術(shù)(FACT)。
(1)精細量程內10 g樣品典型重復性:0.02mg
(2)精細量程內10 g樣品典型線(xiàn)性:0.03mg