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物理光學(xué)儀器
日本Olympus鏡片反射率測定儀USPM-RUⅢ
價(jià) 格：詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地：日本更新時(shí)間：2020-10-29 14:46
品 牌：奧林巴斯型 號：USPM-RUⅢ
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2035
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí)，請說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
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上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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配送方式：
上海自提或三方快遞
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概要
ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ是在原ＵＳＰＭ－ＲＵ儀器上開(kāi)發(fā)出的換代產(chǎn)品，是鏡片反射率測定儀的新機型。薄鏡片也不受背面反射光的影響，能實(shí)現高速、高精度的分光測定。
特征
消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系，消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。
可測定微小領(lǐng)域的反射率
用對物鏡對焦于被測面的微小區域(φ60μm)，可測定鏡片曲面及鍍膜層脫落。
測定時(shí)間短
使用Flat Field Grating(平面光柵)和線(xiàn)傳感器的高速分光測定，可迅速實(shí)現再現性很高的測定。
ＸＹ色度圖、L*a*b*測定可能
以分光測定法為基準，從分光反射率情況可測定物體顏色。
Hard Coat(高強度鍍膜)膜厚測定可能
用干涉光分光法，可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚(單層膜)。
主要用途
各種透鏡（眼鏡透鏡、光讀取頭鏡片等）
反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定（單層膜）
與原產(chǎn)品的主要區別
采用全新的ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ專(zhuān)用框架及設計，提高了操作性能。
受臺Ｚ方向的移動(dòng)范圍從35mm(原產(chǎn)品)擴大到了85mm。
電源規格可對應AC100V以及AC220V。 (請您在下訂單時(shí)注明電源規格。)
優(yōu)化了軟件的功能。(可顯示10次測定的功能等)
XY受臺移動(dòng)方向增加了比例尺。
更換鹵燈時(shí)不需調整燈的位置。
ＰＣ與Interface采用了ＵＳＢ式連接。
產(chǎn)品參數
| 測定波長(cháng) | 380nm～780nm |
| 測定方法 | 與參照試料的比較測定 |
| 被測物N.A. | 0.12(使用10×對物鏡時(shí))
0.24(使用20×對物鏡時(shí))
※與對物鏡的N.A不同 |
| 被測物W.D. | 10.1mm(使用10×對物鏡時(shí))
3.1mm(使用20×對物鏡時(shí)) |
| 被測物的曲率半徑 | -1R～-∞、+1R～∞ |
| 被測物的測定范圍 | 約φ60μm(使用10×對物鏡時(shí))
約φ30μm(使用20×對物鏡時(shí)) |
| 被測物再現性 | ±0.1%以下(2σ)（380nm～410nm測定時(shí)）
±0.01%以下(2σ)(410nm～700nm測定時(shí)) |
| 表示精度 | 1nm |
| 測定時(shí)間 | 數秒～十數秒(因取樣時(shí)間各異） |
| 光源規格 | 鹵燈 12V100W |
| 裝置重量 | 本體：約20kg(電腦、打印機除外)
光源用電源：約3kg、控制器：約8kg |
| 裝置尺寸 | 本體：300(W)×550(D)×570(H)mm
光源用電源：150(W)×250(D)×140(H)mm
控制器盒：220(W)×250(D)×140(H)mm |
| 電源規格 | 光源用電源：100V (2.8A)/220V AC
控制器盒：100V(0.2A)/220V AC |
| 使用環(huán)境 | 水平且無(wú)振動(dòng)的場(chǎng)所
溫度：23±5℃
濕度：60％以下、無(wú)結露 |
| 軟件 | ■測定參數設定
■分光反射率測定
設定參考值(固定值、分散式、可選擇文檔數據) 取樣時(shí)間設定 判定是否合格 波長(cháng)方向刻度
■物體顏色測定
ＸＹ色度圖、L*a*b*色度圖 標準光源設定(A、B、C、D65) 視野設定(2°視野、10°視野)
■膜厚(單層膜)測定
|
| *作為特別訂貨，可對應測定波長(cháng)為440nm～840nm。 |
本裝置不保證為T(mén)raceability體系中的絕對精度。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
