韓國科美K-MAC 薄膜測厚儀(涂層)ST4000-DLX
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:韓國更新時(shí)間:2020-10-23 10:49
品 牌:科美儀器型 號:ST4000-DLX
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1230
400-006-7520
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上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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配送方式:
上海自提或三方快遞
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測量迅速,操作簡(jiǎn)單
非接觸式,非破壞方式
產(chǎn)品參數
1、尺寸 :500 x 610 x 640 mm
2、重量 :45Kg
3、類(lèi)型 :手動(dòng)的
4、測量樣本大小 :≤ 8", 12"
5、測量方法 :無(wú)連接的
6、測量原理 :反射計
7、活動(dòng)范圍 :200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12")
8、測量范圍 :100?~ 35?(Depends on Film Type)
9、光斑尺寸 :40?/20?, 4?(option)
10、測量速度 :1~2 sec./site
11、應用領(lǐng)域 :All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
Intended for Wafer Measurement & OLED
12、選項 :Programmable Auto Z Stage
13、焦點(diǎn) :Coaxial Coarse and Fine Focus Controls
14、附帶照明 :12v 100W Halogen Lamp