膜厚儀
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:其他國家更新時(shí)間:2020-11-05 13:22
品 牌:Laurell型 號:膜厚儀
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2407
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1 、非接觸式測量:避免物件受損。
2 、三維表面測量:表面高度測量范圍為 2nm ---500μm。
3 、多重視野鏡片:方便物鏡的快速切換。
4 、納米***分辨率:垂直分辨率可以達0.1nm。
5、高速數字信號處理器:實(shí)現測量?jì)H需幾秒鐘。
6 、掃描儀:閉環(huán)控制系統。
7、工作臺:氣動(dòng)裝置、抗震、抗壓。
8 、測量軟件:基于windows 操作系統的用戶(hù)界面,強大而快速的運算
產(chǎn)品參數
干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì )非常靈敏地導致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過(guò)的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起,所以通過(guò)干涉條紋的移動(dòng)變化可測量幾何長(cháng)度或折射率的微小改變量,從而測得與此有關(guān)的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度,干涉條紋每移動(dòng)一個(gè)條紋間距,光程差就改變一個(gè)波長(cháng)(~10-7米),所以干涉儀是以光波波長(cháng)為單位測量光程差的,其測量精度之高是任何其他測量方法所無(wú)法比擬的。
產(chǎn)品介紹
干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。