儀器系統的組成主要包括三部分
1)主機(光學(xué)元件),標志為MasterSizer 2000;主機用來(lái)收集測量樣品內粒度大小的原始數據。
2)附件(進(jìn)樣器),標識為Hydro 2000G(普通濕法);附件唯一的目的就是將樣品分散混勻充分并傳送到主機以便于測量。
3)計算機和Malvern測量軟件;Malvern 軟件可定義、控制整個(gè)測量過(guò)程,并同時(shí)處理測量的粒度分布數據、顯示結果并打印報表。
常用的粒度測量方法
(1)篩分法
(2)沉降法(重力沉降法、離心沉降法)
(3)電阻法(庫爾特顆粒計數器)
(4)顯微鏡(圖像)法
(5)電鏡法
(6)超聲波法
(7)透氣法
(8)激光衍射法
各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)
篩分法:優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀(guān)、設備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品。缺點(diǎn):不能用于40μm以細的樣品;結果受人為因素和篩孔變形影響較大。
顯微鏡法:優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀(guān)、可進(jìn)行形貌分析。 缺點(diǎn):速度慢、代表性差,無(wú)法測超細顆粒。
沉降法(包括重力沉降和離心沉降):優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,儀器可以連續運行,價(jià)格低,準確性和重復性較好,測試范圍較大。 缺點(diǎn):測試時(shí)間較長(cháng)。
電阻法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,可測顆??倲?,等效概念明確,速度快,準確性好。 缺點(diǎn):測試范圍較小,小孔容易被顆粒堵塞,介質(zhì)應具備嚴格的導電特性。
電鏡法:優(yōu)點(diǎn):適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點(diǎn):樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
超聲波法:優(yōu)點(diǎn):可對高濃度漿料直接測量。 缺點(diǎn):分辨率較低。
透氣法:優(yōu)點(diǎn):儀器價(jià)格低,不用對樣品進(jìn)行分散,可測磁性材料粉體。 缺點(diǎn):只能得到平均粒度值,不能測粒度分布。
激光法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,測試速度快,測試范圍大,重復性和準確性好,可進(jìn)行在線(xiàn)測量和干法測量。 缺點(diǎn):儀器造價(jià)較高但性能穩定。