德國B(niǎo)MT WLI Lab 白光干涉儀
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:德國更新時(shí)間:2020-10-12 17:04
品 牌:BMT型 號:WLI Lab
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1250
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí),請說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝!
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上海自提或三方快遞
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主要特點(diǎn):
◆ 實(shí)現對光滑和粗糙表面測量
◆ 不用訂合可達到測量區域為1cm2
◆ 具有快速物鏡切換功能
◆ 橫向分辨率可達1um,垂直分辨率***高可到1nm
◆ 測量結果與色彩和材料無(wú)關(guān)
◆ 能實(shí)現秒***的快速測量
產(chǎn)品參數
技術(shù)數據:
光源:LED
測量范圍(μm):100/150
垂直分辨率(nm):<1
橫向分辨率(μm):≥0.2
光圈:0.95
測量面積(μm):90*70
圖像尺寸(Pixel):1280*1024
產(chǎn)品介紹
WLI測量系統是為準確測量表面輪廓、粗糙度、臺階高度、微觀(guān)結構和其它表面參數而設計,可滿(mǎn)足電子、汽車(chē)、制造工業(yè)的使用需求。擴展的顯微鏡模式能使用戶(hù)獲得具有以下特點(diǎn)的3D圖像,對圖像縮放、釘合、標記無(wú)效值、選擇視場(chǎng)等操作。
測量和評估軟件可自動(dòng)測量,用戶(hù)可從表面圖像中選取和處理輪廓線(xiàn)。
主要用途:
◆ 粗糙和光滑表面的顯微研究和測試
◆ 產(chǎn)品凸凹結構圖
◆ 可根據特殊用途定制
主要特點(diǎn):
◆ 實(shí)現對光滑和粗糙表面測量
◆ 不用訂合可達到測量區域為1cm2
◆ 具有快速物鏡切換功能
◆ 橫向分辨率可達1um,垂直分辨率***高可到1nm
◆ 測量結果與色彩和材料無(wú)關(guān)
◆ 能實(shí)現秒***的快速測量
主要優(yōu)點(diǎn):
◆ 表面結構的快速分析
◆ 測量結果與材料表面性能無(wú)關(guān)
◆ 自動(dòng)數據采集和評估
技術(shù)數據:
光源:LED
測量范圍(μm):100/150
垂直分辨率(nm):<1
橫向分辨率(μm):≥0.2
光圈:0.95
測量面積(μm):90*70
圖像尺寸(Pixel):1280*1024