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電子顯微鏡(掃描電鏡、透射電鏡)
Carl Zeiss SMT EVO MA 25多功能掃描電子顯微鏡
價(jià) 格：詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地：德國更新時(shí)間：2020-10-20 14:04
品 牌：蔡司型 號：EVO MA 25
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：1492
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí)，請說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
聯(lián) 系 人：
上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
電 話(huà)：
400-006-7520
傳 真：
400-006-7520
配送方式：
上海自提或三方快遞
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***大樣品高度可達210 mm
***大樣品重量可達5 kg
***大樣品直徑可達300 mm
可變壓力操作
可選配高亮度的LaB6
可選配BeamSleeve?
樣品臺Z軸移動(dòng)范圍達50mm，X軸Y軸均在130mm
通過(guò)樣品的數字化圖像導航
針對X射線(xiàn)分析而改善的LaB6 成像
支持兩個(gè)樣品室觀(guān)察裝置
分辨率 | 3 nm (2 nm) @ 30 kV - SE 與 W (LaB6) 4.5 nm @ 30 kV - BSD (VP 模式) 20 nm (15 nm) @ 1 kV - SE 與 W (LaB6) 10 nm @ 3 kV - SE |
加速電壓 | 0.2 – 30kV |
放大倍數 | ＜5 - 1，000，000 × |
視野 | 分析工作距離（AWD）時(shí)為6mm |
X射線(xiàn)分析 | 分析工作距離8.5mm，出射角35° |
OptiBeam?*模式 | 分辨率、景深、分析、大視野、魚(yú)眼 |
壓力范圍 | 10 - 400 Pa |
可以使用的探測器 | BSD — 多象限半導體二極管 ETSE — Everhart-Thornley二次電子探測器 VPSE — 可變壓力二次電子探測器 SCD — 樣品電流探測器 |
樣品室 | 420 mm (?) × 330 mm (h) |
5軸電動(dòng)樣品臺 | X = 130 mm Y = 130 mm Z = 50 mm T = 0 - 90° R = 360°（連續） |
樣品臺控制方式：鼠標或操縱桿（選配）、操作控制板（選配） |
樣品***大高度 | 210 mm |
MA系列今后保證的升*** | BeamSleeve?、擴展壓力、水蒸氣VP模式 |
圖像幀存儲 | 3072×2304像素，信號采集方式有積分與平均兩類(lèi) |
操作界面 | SmartSEM?**圖形用戶(hù)界面，鍵盤(pán)鼠標操作 Windows?XP多語(yǔ)言操作系統 |
水電要求 | 100 – 240V、50或60 Hz 單相、無(wú)需水冷 |
OptiBeam?*—以主動(dòng)式鏡筒控制實(shí)現***佳分辨率、***佳景深或者***佳視野 SmartSEM?**—用于掃描電鏡控制的第五代圖形用戶(hù)界面 |
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
