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1) Nano-R2型AFM是10萬(wàn)美金以下進(jìn)口設備中唯***配備2英吋圓形樣品臺與自動(dòng)控制樣品臺的原子力顯微鏡, 特別適合對2英吋大樣品的測量。
2）高性能的閉環(huán)式（Closed Loop）掃描器, 定位***, 誤差小于1nm。
3）可選兩種掃描器：Light-Level掃描器和Crystal Force掃描器。
4）Crystal Force掃描器為太平洋納米科技公司的專(zhuān)利, 具有不須校正激光光路、快速掃描與操作容易等優(yōu)點(diǎn)。對于公共實(shí)驗室與需要量測大量樣品的客戶(hù), Crystal Force掃描器是***佳選擇。
5）可配置環(huán)境控制箱, 可控制環(huán)境的溫度、濕度與通氣氛等強大功能。
6）可選配EFM/KPM、導電模式、磁力模式/MFM、摩擦力模式、納米刻蝕 Dip-Pen Nanolithography、探針加熱模式(探針溫度***高可達700攝氏度)、加熱樣品臺、液體池等。
7）Nano-Rp是美***太平洋納米科技公司專(zhuān)門(mén)為分析納米顆粒粒徑分析的原子力顯微鏡。

高性能閉環(huán)平板式掃描器
X-Y掃描：探針掃描( Tip Scan)
范圍：>80um
線(xiàn)性：<1%
Z-Scan:
范圍：>8um
分辨率：<0.1nm
彩色視頻顯微鏡
放大倍數：大于1000
自動(dòng)放大/聚焦：4
視野：140um*190um
分辨率：1.5um
自動(dòng)X(jué)-Y樣品臺：
范圍：25.4 x 25.4 mm
步長(cháng)：<3um
回轉速率：2.5mm/sec
掃描模式：
—接觸模式
—振動(dòng)模式
—非接觸模式
—側向力模式
—材料感應模式
—力/距離曲線(xiàn)
選配模式:
-電學(xué)模式(EFM/Kevin Probe) :非抬起模式, 采用獨立的鎖相放大器探測
-導電模式(SHARK):電流測量范圍: fA-mA
-磁力模式
-納米刻蝕 Dip-Pen Nanolithography
-探針加熱模式( SThM, 探針溫度最高可達700攝氏度)
-全新納米顆粒粒徑分析軟件
-恒溫恒濕環(huán)境控制箱
-脈沖力模式 (Pulse Force Mode): 此為PNI公司獨家開(kāi)發(fā)出來(lái), 針對軟物質(zhì)與黏彈性之測量

PNI 公司背景： 1997 年創(chuàng )建時(shí)名稱(chēng)為Pacific Scanning，是******專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)AFM 控制器和其它零部件的企業(yè)，主要為全世界大型AFM 公司（包括Thermo Microscopes 公司）提供代工（OEM）服務(wù)，2001 年Thermo 被收購后其技術(shù)高管（Gary Aden 和Paul West等）便入主Pacific Scanning 公司，并更名為現在的Pacific Nanotechnology 公司。PNI 公司為了更好地服務(wù)于中***，與實(shí)密***際貿易（上海）有限公司建立了合作關(guān)系。PNI 公司融合了美******新電子學(xué)技術(shù)和日本Toyo 公司多年SPM 技術(shù)支持的實(shí)際成果率先開(kāi)發(fā)出高線(xiàn)形掃描器SPM，能夠滿(mǎn)足科研和工業(yè)用戶(hù)的多方面性能和操作的需要。所有的型號都配備高性能的“Closed Loop”（閉環(huán)）控制線(xiàn)性?huà)呙杵鳌?br/>Nano-R2?型掃描探針顯微鏡（SPM）系統是用于科學(xué)實(shí)驗室的第二代掃描探針顯微鏡。它功能強大，是***款獲取圖像和檢測納米***特征結構的多用途掃描探針顯微鏡。Nano-R2? 掃描探針顯微鏡可以同時(shí)使用兩個(gè)版本的圖像采集軟件：X-pert? 專(zhuān)******和EZ Mode?簡(jiǎn)易***，分別適用于專(zhuān)******用戶(hù)和初學(xué)用戶(hù)。Nano-R2?包括所有AFM采集圖像所需的主機、控制單元、集成設計的光學(xué)視頻顯微鏡和自動(dòng)化XYZ樣品臺，以及圖像顯示軟件和分析軟件。