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掃描探針顯微鏡(SPM)/原子力顯微鏡
RHK 掃描探針顯微鏡
價(jià) 格：詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地：美國更新時(shí)間：2020-10-21 14:41
品 牌：RHK型 號：
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：1945
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí)，請說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
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上海自提或三方快遞
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美***RHK Technology 成立于1981 年。作為SPM 工業(yè)中的領(lǐng)軍儀器制造商，RHK-Technology 始終保持著(zhù)鮮明的特色：創(chuàng )新性、可靠性、產(chǎn)品設計的開(kāi)放性與***的客戶(hù)支持。憑借著(zhù)其優(yōu)異的系統設計、精良的制造工藝、再加上與世界***科學(xué)***的緊密合作，二十多年來(lái)RHK Technology 源源不斷地向全世界科學(xué)***們輸送著(zhù)先進(jìn)的、高精度的科學(xué)分析儀器。
變溫QuadraProbe UHV 4-探針SPM系統是RHK公司生產(chǎn)的多探針UHV SPM系統中的***種，該系統中含有多個(gè)真空腔，可分別用于樣品的存放、制備和物性分析；配備了STM、SAM和MBE以及其他的儀器；每個(gè)探針可獨立操作從而達到原子分辨；工作溫度<10 K (用LHe冷卻)；SEM分辨率<10 nm。
- 四個(gè)STM探針均可達到原子分辨
- 樣品物性的變溫測量<10 k="">1000 K
- 使用Bath型的低溫保持器，LHe的消耗達到***小化
- 四個(gè)探針均可獨立操作
- 可用戶(hù)編程的探針控制功能
- STM均可升***到AFM功能
產(chǎn)品參數
樣品溫度范圍：10 K－1500 K；
最大掃描范圍：8μm；
X、Y、Z三維粗定位：±1.5mm/step；
樣品定位：±1.5mm；
STM分辨率: 四個(gè)探針均可實(shí)現HOPG的原子分辨
SEM分辨率:<10nm
探針材料：W, or W coated with Pt, Au, or other metals
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
