電鏡能譜***體化設計，簡(jiǎn)潔小巧
Phenom ProX 的能譜儀EDS是針對臺式電鏡設計的，本著(zhù)臺式電鏡簡(jiǎn)單易用，售后無(wú)憂(yōu)的宗旨，Phenom ProX的能譜儀EDS 系統完全嵌入在電鏡主機中，利用半導體制冷，無(wú)需額外冷卻系統。下圖是傳統電鏡能譜儀系統與Phenom ProX的對比圖
電鏡分辨率顯著(zhù)提高
瞬間得到樣品表面形貌和元素含量
第***步：利用成像模式得到高分辨率的照片，
背散射電子給出豐富的成份像，雜質(zhì)***目了然
第二步：如果需要分析元素含量，瞬間切換到成份分析模式，點(diǎn)擊感興趣的區域，立刻給出定量定性分析元素名稱(chēng)和含量分布
5kV，10kV，15kV 三檔加速電壓
Phenom ProX提供三檔加速電壓，用戶(hù)可根據樣品類(lèi)型和測試目的，靈活切換
5kV ：血液 絕緣體直接觀(guān)測模式
適合對電子束敏感的樣品
10kV：電路板 ***佳分辨率模式
適合絕大部分樣品
15kV：電路板 元素分析模式
X射線(xiàn)特征譜線(xiàn)更明顯
表面形貌和成分信息同時(shí)展現
背散射電子的產(chǎn)率、出射角度與樣品成份及表面形貌相關(guān)。Phenom（飛納）采用4分割半導體背散射電子探測器，為您提供兩種成像模式，模式之間可迅速切換：
? 成份模式：同時(shí)給出樣品表面形貌與成份信息，不同元素可由其灰度對比度的不同加以分辨
? 形貌模式：去除成份信息，樣品表面凹凸起伏等微觀(guān)結構更加明晰，適用于表面粗糙度和缺陷分析成份模式
4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相疊加
形貌模式
4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相抵消
成份模式圖像包含樣品成份與形貌信息
形貌模式圖像僅突出樣品表面形貌特征
專(zhuān)利樣品杯，30秒快速成像
Phenom（飛納）專(zhuān)利樣品杯、低真空設計、專(zhuān)利的真空封鎖技術(shù)，裝入樣品后30秒內即可得到高質(zhì)量圖像，耗時(shí)僅為傳統電鏡的1/10左右。
直接觀(guān)看絕緣體，無(wú)需噴金
Phenom（飛納）采用低真空技術(shù)，出射電子與空氣分子碰撞產(chǎn)生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，有效抑制荷電效應的產(chǎn)生，直接觀(guān)測各種不導電樣品（如下圖所示）。
利用降低荷電效應樣品杯，更可將開(kāi)始荷電的放大倍數提高8倍左右，而且不會(huì )影響燈絲壽命，下圖頭發(fā)示例：
操作簡(jiǎn)便，全程導航
? 自動(dòng)/手動(dòng)聚焦
Phenom（飛納）操作界面。通過(guò)點(diǎn)擊右側圖標可以輕松完成圖像縮放、聚焦、亮度對比度調節、旋轉等操作。界面右側顯示光學(xué)導航和低倍SEM導航窗口，方便用戶(hù)在不同樣品、不同區域間進(jìn)行切換。
? 自動(dòng)/手動(dòng)亮度
? 自動(dòng)/手動(dòng)對比度
? 自動(dòng)燈絲居中調節
? 自動(dòng)馬達樣品臺
? 光學(xué)/電子樣品導航
光學(xué)導航，所有待觀(guān)測樣品盡在視野之中，高倍下準確切換樣品，只需點(diǎn)擊感興趣樣品，即可自動(dòng)移動(dòng)到屏幕中央
低倍SEM照片導航，導航窗口中的彩色矩形框指示了住觀(guān)測窗口的觀(guān)測區域，點(diǎn)擊感興趣的區域，自動(dòng)移動(dòng)到樣品中央。
長(cháng)壽命/高亮度/低色差 CeB6 燈絲
Phenom（飛納）采用逸出功為2.5eV的CeB6燈絲，其亮度為鎢燈絲的10倍，出射電子色差小，為您提供更高質(zhì)量的圖像，其使用壽命長(cháng)達1500小時(shí)，為鎢燈絲的10倍，可正常使用1-3年無(wú)需更換燈絲，免去了您頻繁更換燈絲的麻煩，保證工作進(jìn)度。
環(huán)境適應性高，完全防震
Phenom（飛納）可以放置在幾乎所有的室內環(huán)境當中，無(wú)需超凈間。采用燈絲、探測器、樣品臺相對***體化的設計，震動(dòng)不會(huì )引起三者間的相對運動(dòng)，使Phenom成像不受震動(dòng)影響，可放置在較高樓層。
互聯(lián)網(wǎng)遠程檢測
Phenom（飛納）擁有遠程檢測功能，通過(guò)網(wǎng)絡(luò )，專(zhuān)業(yè)工程師可隨時(shí)為您遠程檢測系統、答疑解難，為您提供全方位的保護，讓您的Phenom隨時(shí)處于***佳工作狀態(tài)。
豐富的拓展功能選件
適用于不同領(lǐng)域的樣品杯選件
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
