偏光熔點(diǎn)儀XPR-500C
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:上海更新時(shí)間:2020-10-29 17:23
品 牌:蔡康光學(xué)型 號:XPR-500C
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2327
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本系統廣泛應用于高分子材料、聚合物材料等化工領(lǐng)域,適用于研究物體的結晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測量、結晶動(dòng)力學(xué)的過(guò)程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結構分析、熔解狀態(tài)記錄觀(guān)察分析等總多研究方向。
偏光顯微熔點(diǎn)測定儀XPR-500系統匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學(xué)、自動(dòng)控制、模量學(xué)等總多研究領(lǐng)域的當前***技術(shù),多年研究開(kāi)發(fā)的結果,在***內享有絕對***.本儀器的具有可擴展性,可以接計算機和數碼相機。對圖片進(jìn)行保存、編輯和打印。